? 在EMC對比試驗中,樣品的選擇是非常關(guān)鍵的一個(gè)環(huán)節,應確保比對出現的不滿(mǎn)意結果不被歸咎于樣品的變異性。比對樣品選擇不合適,會(huì )導致難以對最終數據進(jìn)行統計;或者結果不能反映參加比對實(shí)驗的所有檢測能力。穩定的被測設備,能減少測試結果的不確定性,排除導致測試差異的不穩定因素并縮小測試差異的考察范圍,簡(jiǎn)化測試差異的分析過(guò)程。
?
?
?
? ? ? 一個(gè)合適的比對樣品,至少滿(mǎn)足以下規則:對比試驗選擇被測樣品最重要的一點(diǎn)就是被測樣品在測試過(guò)程中其運行的穩定性。這種穩定性不是指樣品性能的穩定性,而是從電磁騷擾的角度來(lái)考察,其發(fā)射的檢測信號必須是穩定的。被測樣品的穩定性可以在不同時(shí)間與不同地點(diǎn)進(jìn)行測試的情況下,對測試結果的相對一致性提供直接保證。被測樣品的穩定性應該在多次檢測結果中體現。為了保證在EMI 測試實(shí)驗室測試EMI 結果的一致性和可重復性,梳狀信號發(fā)生器是快速EMI 場(chǎng)地校準的參考輻射源。它能用來(lái)發(fā)現潛在的由于測試設備故障或者改變設置引起的測量誤差。在EMC 標準測試場(chǎng)地使用梳狀信號發(fā)生器可以快速地完成實(shí)驗室校驗并找出潛在的問(wèn)題。來(lái)自?xún)蓚€(gè)不同EMC 測試中心的數據有時(shí)候會(huì )有比較大的差異,如何找出造成這種測試差異的原因比較困難。這時(shí)候將梳狀信號發(fā)生器作為信號源代替EUT 放置在相同的位置,測試中心采用與之前測試EUT 相同的設置,通過(guò)對比測試結果可以快速查出測試差異的的大小,并在系統中進(jìn)行適當的補償以保障2個(gè)不同屏蔽室之間的差異達到最小。
?
?????? 免責聲明:本文系網(wǎng)絡(luò )轉載,版權歸原作者所有。如本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權問(wèn)題,請在文末留言告知,我們將在第一時(shí)間處理!本文內容為原作者觀(guān)點(diǎn)!不代表常創(chuàng )科技的立場(chǎng)!如有疑問(wèn),請聯(lián)系刪除:huayucheng@chinese-emc.com.cn
?
想了解更多的電波暗室/屏蔽室/EMC測試/系統集成/輻射雜散測試系統(RE/RSE)等相關(guān)信息,歡迎關(guān)注我們的微信公眾號: ?
,我們將請專(zhuān)業(yè)工程師為您解答! 官網(wǎng):wap.chfdc.net 深圳辦事處地址:深圳市龍崗區橫崗街道華僑新村社區榮德時(shí)代廣場(chǎng)B1415 工廠(chǎng)地址:廣西桂林市秀峰區矮山塘燕子巖村3號 聯(lián)系電話(huà):86-0755-26434420 常成常至,創(chuàng )造卓越! |